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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心鐵電測試系統(tǒng)FETS-2000鐵電分析儀/電滯回線測試
產(chǎn)品型號:FETS-2000
更新時(shí)間:2024-11-13
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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產(chǎn)品分類
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鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):
a. 內(nèi)置測試電壓可選±10/30/100/200/500VAC,可外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國產(chǎn)、進(jìn)口均適用);
b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.001Hz ~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz,頻率可選;
c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展);
d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);
e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;
f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。
本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時(shí),無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本鐵電分析儀/電滯回線測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。
該系統(tǒng)測試功能:
動態(tài)電滯回線DHM
靜態(tài)電滯回線SHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
電擊穿強(qiáng)度BDM
漏電流LM
電流-偏壓
保持力RM
印跡印痕IM
THM模塊,變溫區(qū)間可選。
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