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PCTS-3000H高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到場致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到場致熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。

PCTS-2000熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)。

PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。